Listar Ponencias / Comunicaciones de congresos GIE por autor "Bravo Díez, Pedro Miguel"
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Implementation of the GTN Damage Model to Simulate the Small Punch Test on Pre-Cracked Specimens
Alegre Calderón, Jesús Manuel ; Cuesta Segura, Isidoro Iván ; Bravo Díez, Pedro Miguel
(2011, Elsevier)Contribución a congreso